型号：Olympus LEXT OLS4100

基本信息：

样品尺寸：无要求，大面积区域成像时需要样品表面较为平整

样品制备：无需样品制备

光源：405nm半导体激光/白色LED

总倍率：108x-17,280x 

用途：

激光共聚焦显微镜可用来测量样品的表面物理形貌，进行微纳米尺度的三维形貌分析，如三维表面形貌、二维纵深形貌等。本台仪器采用非接触式、无损、快速成像测量，无需样品制备即可进行测量，同时可通过快速拼接的方式实现对大面积区域的成像。

配件：

本台仪器配备物镜100x，50x，20x，10x，5x等。