基本信息：

• 样品尺寸：无要求，大面积区域成像时需要样品表面较为平整
• 样品制备：无需样品制备
• 光源：405 nm 半导体激光 / 白色 LED
• 总倍率：108x - 17,280x

用途：

激光共聚焦显微镜可用来测量样品的表面物理形貌，进行微纳米尺度的三维形貌分析，如三维表面形貌、二维纵深形貌等。本台仪器采用非接触式、无损、快速成像测量，无需样品制备即可进行测量，同时可通过快速拼接的方式实现对大面积区域的成像。

配件：

本台仪器配备物镜 100x, 50x, 20x, 10x, 5x 等。