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数字全息技术实现透明材料裂纹生长研究
2022/12/27

前言

油画保护是世界文物保护的重要领域之一。通常油画由固定在木质或金属框架上的帆布、油画颜料及透明清漆保护层组成。清漆保护层对油画整体起到重要的保护作用,随着时间的推移,由于温度、湿度、运输等影响,清漆层会无可避免的出现细小裂纹,一旦清漆层存在的裂纹发生加速扩张劣化,整幅油画的老化速度也会随之加快。因此,对油画表面的裂纹研究一直是油画保护技术领域中的热点问题。

研究表明在特定光照条件下,或对油画类文物进行激光清洗时,可能会使油画表层新增细小损伤,或加速已有裂纹的扩张。因此,上海大学、故宫博物院、希腊电子结构与激光研究所等单位,依托中国-希腊文物保护技术“一带一路”联合实验室的分析技术与科研协作平台,利用数字全息技术,针对油画表面保护层的 Dammar 清漆材料,开展材料裂纹生长实验研究,其中材料裂纹生长激励方式为激光辐照,以模拟清漆上叶尖状裂纹在激光辐照下的裂化状况。

图1 油画表面常见细小裂纹分布

图 1  油画表面常见细小裂纹分布

数字全息技术基本原理

数字全息技术 (DH, Digital Holography) 是指基于光的干涉原理,利用数字图像采集器件将被测物体的衍射光场直接记录,然后利用数字处理技术实现衍射光场的数值重建,从而获取被测物体的相关参量信息。由于衍射光场中包含被测物体的强度信息和相位信息,因此三维性是数字全息技术的独特优势,另外数字全息技术也具有显微性、无损性、实时性等技术特点。

实验系统设计与样品制作

激光辐照及数字全息图记录的综合光路系统如图 2 所示。SC-Pro 多光谱脉冲激光器作为系统光源,输出波长范围从 430 nm 到 2400 nm,全波段工作功率为 8 W。图像采集器件选用 CCD (DHC-MER-500-7UM),单个像素尺寸 2.2μm × 2.2μm,面阵像素量为 1544(H) × 1944(V)。系统中,反射镜 M1 可以沿垂直于光轴方向进行平移:当反射镜 M1 平移至实线位置时,光路 LASER-M1-M4-L3 可以对样品进行辐照,凸透镜 L3 的焦距为 150 mm,实现光源的汇聚辐照;当反射镜 M1 在虚线位置时,则构成马赫-泽德离轴全息干涉光路,激光通过空间滤光片 SF 进行扩束准直后,再经过棱镜 BS1 分成两束光波,一束通过反射镜 M2 照射裂纹样本形成物光,另一束通过反射镜 M3 作为为参考光。物光、参考光分别透过凸透镜 L1、L2 被扩束放大,然后经过棱镜 BS2 汇合并在 CCD 面干涉,形成全息图。

系统中,p 是凸透镜 L1、L2 的焦距,为 120 mm,q 是凸透镜 L1、L2 后焦平面到 CCD 感光面的距离。因此由透镜成像原理可知,L1 对样本的放大倍率为 q/p,经标准件测定,凸透镜 L1、L2 的扩束倍率是 1.976,即被测物体在全息图记录过程中将被放大 1.976 倍。

图2 激光辐照&数字全息干涉光路系统示意图(LASER-M4-L3为辐照光路)

图 2  激光辐照 & 数字全息干涉光路系统示意图 (LASER-M4-L3 为辐照光路)

实验将分为两个步骤,第一步是分别利用不同波段,如近紫外波段、可见光波段及近红外波段,对裂纹样品进行激光辐照,开展材料的光敏分析实验;第二步,依据第一步实验结果,利用敏感波段激光辐照裂纹样品,开展裂纹生长分析实验。两步骤实验中样品的制作方法相同,样品照片如图 3 所示。图 3(a)、(b) 均为具有裂纹的 Dammar 清漆样品,分别用于上述实验中。同时为更好的比对分析,也制作无裂纹的 Dammar 清漆样品,如图 2(c) 所示,用于裂纹生长分析实验中。实验中,全息图的记录波长均为 633 nm,辐照激光频率为 5 Mhz,每单次辐照时长均为 5 分钟。

图3 实验样本:(a)实验裂纹样本1;(b)实验裂纹样本2,(c)无裂纹实验样本

图 3  实验样本:(a) 实验裂纹样本 1;(b) 实验裂纹样本 2,(c) 无裂纹实验样本

激光辐照裂纹生长实验分析

第一步实验中,辐照波段分别为近红外激光、可见光激光、近紫外激光,为保证辐照功率,每一个波段选用两个波长组成混合光源,实验过程如下:针对图 3(a) 所示有裂纹样本,首先记录其原始状态下的全息图,然后采用 740 nm + 750 nm 混合光源辐照,并记录一幅全息图,接着用 430 nm + 440 nm 混合光源继续辐照,也记录一幅全息图,最后用 500 nm + 510 nm 混合光源辐照,再记录一幅全息图。对上述全息图分别进行数值重建,获得各状态下的裂纹的包裹相位,依次如图 4(a)-(d) 所示,观察图中红色虚线框内的相位,可见 740 nm + 750 nm 混合光源辐照后,裂纹头部相位变化最明显。因此,与可见光波段激光、近紫外波段激光相比,近红外波段的激光对裂纹生长的影响更大。

图4 不同波段光源辐照下裂纹生长的全息图重建相位

图 4  不同波段光源辐照下裂纹生长的全息图重建相位:(a) 初始状态;(b) 740 nm + 750 nm 混合光源辐照;
(c) 430 nm + 440 nm 混合光源辐照;(d) 500 nm + 510 nm 混合光源辐照

第二步实验中,在近红外波段,依次用 740 nm + 750 nm、840 nm + 850 nm、940 nm + 950 nm 和 1040 nm + 1050 nm 四种混合波长光源对有裂纹样本 (图 2(b) 所示) 进行激光辐照,每单次辐照时间为 5 分钟,重复上述全息图记录和数值重建过程,观察不同波长光源辐照后裂纹生长的相位变化,依次如图 5(a)-(d) 所示。为更直观表达辐照后裂纹生长情况,选取 X 轴坐标上 457、1625、2525 像素点,然后分别沿 Y 轴提取截线分布,同一像素位置的截线绘制在同一幅图中,结果如图 6(a)、图 6(c) 和图 6(e) 所示,可见激光辐照后裂纹均有不同程度的生长。针对无裂纹样本 (如图 2(c) 所示) 重复实验过程,得实验结果如图 6(b)、图 6(d) 和图 6(f) 所示,可见当样本无裂纹时,给予同样条件的激光辐照,样本也不会被破坏。

基于像素尺寸及系统标定放大倍率,对图 6(a)、图 6(c) 和图 6(e) 中每一组的裂纹生长进行量化计算,结果如表 1 所示。表 1 所列计算数据表明,对叶尖裂纹头部辐照时,被测材料内空腔的中部和尾部的生长距离也随波长变化而变化,可见尖端裂纹头部对辐照波长的变化比裂纹中部和尾部更敏感;当用同一波段激光辐照时,则裂纹中部和尾部的生长距离均大于裂纹头部的生长距离,但裂纹头部的生长方向更为明确。

图5 近红外波段光源辐照下裂纹生长相位变化

图 5  近红外波段光源辐照下裂纹生长相位变化:
(a) 740 nm + 750 nm 辐照后与初始状态相位差;(b) 840 nm + 850 nm 辐照后与 740 nm + 750 nm 辐照后相位差;
(c) 940 nm + 950 nm 辐照后与 840 nm + 850 nm 辐照后相位差;(d) 1040 nm 和 1050 nm 辐照后与 940 nm + 950 nm 辐照后相位差

图6 近红外波段光源辐照下裂纹生长相位变化不同位置截线图

图 6  近红外波段光源辐照下裂纹生长相位变化不同位置截线图 (上:有裂纹样本,下:无裂纹样本):
(a)-(b) X = 457;(c)-(d) X = 1625;(e)-(f) X = 2525

表 1  不同辐照波长下试验组与对照组裂纹扩展距离 (单位:μm)

Irradiation wavelength (nm) 740 + 750 840 + 850 940 + 950 1040 + 1050
Experimental group X = 457 0.072 0.087 0.090 0.101
Control group X = 457 0.001 0.001 0.005 0.004
Experimental group X = 1625 0.136 0.138 0.134 0.176
Control group X = 1625 0.016 0.016 0.023 0.018
Experimental group X = 2525 0.168 0.166 0.163 0.198
Control group X = 2525 0.008 0.013 0.006 0.014

总结

本工作中,基于数字全息技术的 Dammar 清漆裂纹激光辐照实验研究发现,如果油画表面材料存在微小裂纹,在红外辐射下,裂纹叶尖处容易发生生长导致材料进一步劣化,从而对油画造成更大的损伤。因此,为了更好的对油画进行保护,保存环境中应尽量避免红外光照射。同样,用激光清洗年代久远或比较脆弱的油画时,尤其需要谨慎使用红外线波长的激光,避免对艺术品造成不可逆转的损伤。本研究所提出的数字全息系统体积小、便于集成携带,未来可适用于文物现场保护研究中。并且,本研究也证明数字全息技术在文物领域缺陷检测中具有其独特优势。除此之外,未来也将尝试利用数字全息技术进行非透明物体上的微小缺陷研究。

本文已于近期在线发表于 MDPI 旗下 SCI 期刊《Applied Sciences》。

原文链接:

https://www.mdpi.com/2076-3417/12/15/7799