油画保护是世界文物保护的重要领域之一。通常油画由固定在木质或金属框架上的帆布、油画颜料及透明清漆保护层组成。清漆保护层对油画整体起到重要的保护作用,随着时间的推移,由于温度、湿度、运输等影响,清漆层会无可避免的出现细小裂纹,一旦清漆层存在的裂纹发生加速扩张劣化,整幅油画的老化速度也会随之加快。因此,对油画表面的裂纹研究一直是油画保护技术领域中的热点问题。
研究表明在特定光照条件下,或对油画类文物进行激光清洗时,可能会使油画表层新增细小损伤,或加速已有裂纹的扩张。因此,上海大学、故宫博物院、希腊电子结构与激光研究所等单位,依托中国-希腊文物保护技术“一带一路”联合实验室的分析技术与科研协作平台,利用数字全息技术,针对油画表面保护层的Dammar清漆材料,开展材料裂纹生长实验研究,其中材料裂纹生长激励方式为激光辐照,以模拟清漆上叶尖状裂纹在激光辐照下的裂化状况。
图1 油画表面常见细小裂纹分布
数字全息技术(DH,Digital Holography)是指基于光的干涉原理,利用数字图像采集器件将被测物体的衍射光场直接记录,然后利用数字处理技术实现衍射光场的数值重建,从而获取被测物体的相关参量信息。由于衍射光场中包含被测物体的强度信息和相位信息,因此三维性是数字全息技术的独特优势,另外数字全息技术也具有显微性、无损性、实时性等技术特点。
激光辐照及数字全息图记录的综合光路系统如图2所示。SC-Pro多光谱脉冲激光器作为系统光源,输出波长范围从430 nm到2400 nm,全波段工作功率为8 W。图像采集器件选用CCD(DHC-MER-500-7UM),单个像素尺寸2.2μm×2.2μm,面阵像素量为1544(H)×1944(V)。系统中,反射镜M1可以沿垂直于光轴方向进行平移:当反射镜M1平移至实线位置时,光路LASER-M1-M4-L3可以对样品进行辐照,凸透镜L3的焦距为150mm,实现光源的汇聚辐照;当反射镜M1在虚线位置时,则构成马赫-泽德离轴全息干涉光路,激光通过空间滤光片SF进行扩束准直后,再经过棱镜BS1分成两束光波,一束通过反射镜M2照射裂纹样本形成物光,另一束通过反射镜M3作为为参考光。物光、参考光分别透过凸透镜L1、L2被扩束放大,然后经过棱镜BS2汇合并在CCD面干涉,形成全息图。
系统中,p是凸透镜L1、L2的焦距,为120mm,q是凸透镜L1、L2后焦平面到CCD感光面的距离。因此由透镜成像原理可知,L1对样本的放大倍率为q/p,经标准件测定,凸透镜L1、L2的扩束倍率是1.976,即被测物体在全息图记录过程中将被放大1.976倍。
图2 激光辐照&数字全息干涉光路系统示意图(LASER-M4-L3为辐照光路)
实验将分为两个步骤,第一步是分别利用不同波段,如近紫外波段、可见光波段及近红外波段,对裂纹样品进行激光辐照,开展材料的光敏分析实验;第二步,依据第一步实验结果,利用敏感波段激光辐照裂纹样品,开展裂纹生长分析实验。两步骤实验中样品的制作方法相同,样品照片如图3所示。图3(a)、(b)均为具有裂纹的Dammar清漆样品,分别用于上述实验中。同时为更好的比对分析,也制作无裂纹的Dammar清漆样品,如图2(c)所示,用于裂纹生长分析实验中。实验中,全息图的记录波长均为633nm,辐照激光频率为5Mhz,每单次辐照时长均为5分钟。
图3 实验样本:(a)实验裂纹样本1;(b)实验裂纹样本2,(c)无裂纹实验样本
第一步实验中,辐照波段分别为近红外激光、可见光激光、近紫外激光,为保证辐照功率,每一个波段选用两个波长组成混合光源,实验过程如下:针对图3(a)所示有裂纹样本,首先记录其原始状态下的全息图,然后采用740 nm+750 nm混合光源辐照,并记录一幅全息图,接着用430 nm+440 nm混合光源继续辐照,也记录一幅全息图,最后用500 nm+510 nm混合光源辐照,再记录一幅全息图。对上述全息图分别进行数值重建,获得各状态下的裂纹的包裹相位,依次如图4(a)-(d)所示,观察图中红色虚线框内的相位,可见740 nm+750 nm混合光源辐照后,裂纹头部相位变化最明显。因此,与可见光波段激光、近紫外波段激光相比,近红外波段的激光对裂纹生长的影响更大。
图4 不同波段光源辐照下裂纹生长的全息图重建相位:(a)初始状态;(b) 740 nm+750 nm混合光源辐照;
(c) 430 nm+440 nm混合光源辐照;(d)500 nm+510 nm混合光源辐照
第二步实验中,在近红外波段,依次用740nm+750 nm、840nm+850 nm、940nm+950 nm和1040nm+1050 nm四种混合波长光源对有裂纹样本(图2(b)所示)进行激光辐照,每单次辐照时间为5分钟,重复上述全息图记录和数值重建过程,观察不同波长光源辐照后裂纹生长的相位变化,依次如图5(a)-(d)所示。为更直观表达辐照后裂纹生长情况,选取X轴坐标上457、1625、2525像素点,然后分别沿Y轴提取截线分布,同一像素位置的截线绘制在同一幅图中,结果如图6(a)、图6(c)和图6(e)所示,可见激光辐照后裂纹均有不同程度的生长。针对无裂纹样本(如图2(c)所示)重复实验过程,得实验结果如图6(b)、图6(d)和图6(f)所示,可见当样本无裂纹时,给予同样条件的激光辐照,样本也不会被破坏。
基于像素尺寸及系统标定放大倍率,对图6(a)、图6(c)和图6(e)中每一组的裂纹生长进行量化计算,结果如表1所示。表1所列计算数据表明,对叶尖裂纹头部辐照时,被测材料内空腔的中部和尾部的生长距离也随波长变化而变化,可见尖端裂纹头部对辐照波长的变化比裂纹中部和尾部更敏感;当用同一波段激光辐照时,则裂纹中部和尾部的生长距离均大于裂纹头部的生长距离,但裂纹头部的生长方向更为明确。
图5 近红外波段光源辐照下裂纹生长相位变化:
(a) 740 nm+750 nm辐照后与初始状态相位差;(b) 840 nm+850 nm辐照后与740 nm+750 nm辐照后相位差;
(c)940 nm+950 nm辐照后与840 nm+850 nm辐照后相位差;(d) 1040 nm和1050 nm辐照后与940 nm+950 nm辐照后相位差
图6 近红外波段光源辐照下裂纹生长相位变化不同位置截线图(上:有裂纹样本,下:无裂纹样本):
(a)-(b) X = 457;(c)-(d) X = 1625;(e)-(f) X = 2525
表1 不同辐照波长下试验组与对照组裂纹扩展距离(单位:µm)
Irradiation wavelength (nm) | 740 + 750 | 840 + 850 | 940 + 950 | 1040 + 1050 |
---|---|---|---|---|
Experimental group X = 457 | 0.072 | 0.087 | 0.090 | 0.101 |
Control group X = 457 | 0.001 | 0.001 | 0.005 | 0.004 |
Experimental group X = 1625 | 0.136 | 0.138 | 0.134 | 0.176 |
Control group X = 1625 | 0.016 | 0.016 | 0.023 | 0.018 |
Experimental group X = 2525 | 0.168 | 0.166 | 0.163 | 0.198 |
Control group X = 2525 | 0.008 | 0.013 | 0.006 | 0.014 |
本工作中,基于数字全息技术的Dammar清漆裂纹激光辐照实验研究发现,如果油画表面材料存在微小裂纹,在红外辐射下,裂纹叶尖处容易发生生长导致材料进一步劣化,从而对油画造成更大的损伤。因此,为了更好的对油画进行保护,保存环境中应尽量避免红外光照射。同样,用激光清洗年代久远或比较脆弱的油画时,尤其需要谨慎使用红外线波长的激光,避免对艺术品造成不可逆转的损伤。本研究所提出的数字全息系统体积小、便于集成携带,未来可适用于文物现场保护研究中。并且,本研究也证明数字全息技术在文物领域缺陷检测中具有其独特优势。除此之外,未来也将尝试利用数字全息技术进行非透明物体上的微小缺陷研究。
本文已于近期在线发表于MDPI旗下SCI期刊《Applied Sciences》。
原文链接:
https://www.mdpi.com/2076-3417/12/15/7799